Une nouvelle technologie d'imagerie arrive au point de contrôle de sécurité d'American Airlines à l'aéroport JFK de New York, ce qui pourrait accélérer le processus de contrôle. Selon un communiqué conjoint de la compagnie aérienne et de la TSA (Transportation Security Administration) , American fait l'essai d'un nouveau type de scanner à rayons X 3D qui permettra au personnel de contrôle d'obtenir des images plus complètes et de meilleure qualité des bagages de cabine. Les images qui en résultent devraient mieux aider les agents à identifier les matériaux et à réduire le nombre de sacs signalés qui nécessitent une recherche manuelle.
Le nouveau scanner de JFK sera en fonction sur une seule voie au terminal 8 d'ici la fin juillet. Deux autres scanners 3D sont également testés par American Airlines dans les aéroports de Phoenix Sky Harbor et Boston Logan.



